WAT SPC Review
WAT SPC Review 是晶圓制造中,特別是PIE所負(fù)責(zé)的一個(gè)關(guān)鍵過(guò)程,主要涉及對(duì) WAT(Wafer Acceptance Test,晶圓驗(yàn)收測(cè)試)結(jié)果的 SPC(Statistical Process Control,統(tǒng)計(jì)過(guò)程控制)分析和評(píng)審。這一過(guò)程的目的是確保制造過(guò)程中產(chǎn)品的質(zhì)量穩(wěn)定性,及時(shí)發(fā)現(xiàn)潛在的制程問(wèn)題,確保生產(chǎn)線的順暢和產(chǎn)品的合格。