MOS管

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PMOS是指n型襯底、p溝道,靠空穴的流動(dòng)運(yùn)送電流的MOS管。全稱 : positive channel Metal Oxide Semiconductor;別名 : positive MOS。

PMOS是指n型襯底、p溝道,靠空穴的流動(dòng)運(yùn)送電流的MOS管。全稱 : positive channel Metal Oxide Semiconductor;別名 : positive MOS。收起

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  • 南芯科技推出內(nèi)置MOS管的高集成度升降壓充電芯片
    南芯科技(證券代碼:688484)宣布推出全集成同步雙向升降壓充電芯片 SC8911,該芯片配備 I2C 接口,專為常見的 2 串電池 30W 充電寶應(yīng)用進(jìn)行了效率優(yōu)化,可有效降低外殼溫升,為用戶提供更安全、更高效的充電體驗(yàn)。SC8911 可支持 OTG 反向升壓功能,兼容涓流充電、預(yù)充電、恒流充電、恒壓充電、自動(dòng)終止等多種模式,助力客戶實(shí)現(xiàn)更高的效率、更低的 BOM 成本和更小的 BOM 尺寸。
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  • 從焊接虛焊到靜電擊穿:MDDMOS管安裝環(huán)節(jié)的問題
    在電子制造中,MDDMOS管的安裝環(huán)節(jié)暗藏諸多風(fēng)險(xiǎn)。某智能手表產(chǎn)線因焊接虛焊導(dǎo)致30%的MOS管失效,返工成本超百萬。本文MDD通過典型故障案例,剖析安裝過程中的五大核心問題,并提供系統(tǒng)性解決方案。 一、焊接虛焊:IMC層的致命缺陷 案例:某無人機(jī)電調(diào)批量出現(xiàn)MOS管功能異常,X射線檢測顯示焊點(diǎn)空洞率達(dá)25%。 機(jī)理分析: 焊接溫度曲線偏差(峰值溫度未達(dá)235℃),導(dǎo)致錫膏與銅層間未形成均勻的IM
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  • 驅(qū)動(dòng)電路設(shè)計(jì)踩坑錄:MDDMOS管開關(guān)異常的診斷與修復(fù)
    在電力電子系統(tǒng)中,MDDMOS管的開關(guān)異常往往導(dǎo)致效率驟降、EMI超標(biāo)甚至器件損毀。某新能源汽車OBC模塊因驅(qū)動(dòng)波形振蕩引發(fā)MOS管過熱,導(dǎo)致整機(jī)返修率高達(dá)15%。本文結(jié)合典型故障案例,剖析驅(qū)動(dòng)電路設(shè)計(jì)中的四大關(guān)鍵陷阱,并提供系統(tǒng)性解決方案。 一、柵極振蕩:探針引發(fā)的“假故障” 故障現(xiàn)象: 某變頻器驅(qū)動(dòng)波形實(shí)測時(shí)出現(xiàn)20MHz高頻振蕩,但上機(jī)后MOS管溫升異常。 根因分析: 傳統(tǒng)探針接地線過長(&
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  • MOS管發(fā)燙嚴(yán)重:從散熱設(shè)計(jì)到驅(qū)動(dòng)波形的優(yōu)化實(shí)戰(zhàn)|MDD
    在電機(jī)驅(qū)動(dòng)、電源轉(zhuǎn)換等場景中,MDDMOS管嚴(yán)重發(fā)熱是工程師面臨的常見挑戰(zhàn)。某工業(yè)伺服驅(qū)動(dòng)器因MOS管溫升達(dá)105℃,導(dǎo)致系統(tǒng)頻繁觸發(fā)過溫保護(hù)。本文通過解析發(fā)熱機(jī)理,結(jié)合實(shí)測數(shù)據(jù),提供從散熱設(shè)計(jì)到驅(qū)動(dòng)優(yōu)化的系統(tǒng)性解決方案。 一、發(fā)熱根源:損耗模型的精準(zhǔn)拆解 MOS管發(fā)熱本質(zhì)是能量損耗的累積,主要包含: 導(dǎo)通損耗:P=IMsxRs(o)xD, 某50A電機(jī)驅(qū)動(dòng)案例中,Rds(on)=5mΩ,占空比D
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  • MOS管選型十大陷阱:參數(shù)誤讀引發(fā)的血淚教訓(xùn)MDD
    在電力電子設(shè)計(jì)中,MOS管選型失誤導(dǎo)致的硬件失效屢見不鮮。某光伏逆變器因忽視Coss參數(shù)引發(fā)炸管,直接損失50萬元。本文以真實(shí)案例為鑒,MDD辰達(dá)半導(dǎo)體帶您解析MOS管選型中的十大參數(shù)陷阱,為工程師提供避坑指南。 一、VDS耐壓虛標(biāo):動(dòng)態(tài)尖峰的致命盲區(qū) 誤讀后果:某充電樁模塊標(biāo)稱650V耐壓MOS管,實(shí)際測試中因關(guān)斷尖峰達(dá)720V導(dǎo)致批量擊穿。 數(shù)據(jù)手冊陷阱:廠家標(biāo)稱VDS為直流耐壓值,未考慮動(dòng)態(tài)
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  • MOS管莫名燒毀?5大元兇與防護(hù)方案深度解析MDD
    在電子系統(tǒng)設(shè)計(jì)中,MOS管燒毀是工程師常遇的棘手問題。MDD辰達(dá)半導(dǎo)體在本文結(jié)合典型失效案例與工程實(shí)踐,深度解析五大核心失效機(jī)理及防護(hù)策略,為電路可靠性提供系統(tǒng)性解決方案。 一、過壓擊穿:雪崩能量的致命威脅 過壓是MOS管燒毀的首要元兇,常見于電源浪涌、感性負(fù)載關(guān)斷時(shí)的電壓尖峰。當(dāng)漏源電壓(VDS)超過額定耐壓時(shí),雪崩擊穿瞬間產(chǎn)生焦耳熱,導(dǎo)致芯片局部熔融。例如,某共享充電寶主板的MOS管因未配置T
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  • MOS管在不同電路中有什么作用
    MOS管,全稱金屬-氧化物-半導(dǎo)體場效應(yīng)晶體管(Metal-Oxide-Semiconductor Field-Effect Transistor),是電子電路中非常重要的一種元件。它在不同電路中具有多種作用,以下是MOS管在不同電路中的具體作用: 一、作為開關(guān) MOS管最常用的功能之一是作為電子開關(guān)。在數(shù)字電路中,MOS管可以非??焖俚卦趯?dǎo)通(ON)和截止(OFF)狀態(tài)之間切換,實(shí)現(xiàn)信號(hào)的邏輯控
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    01/10 08:50
  • 提升MOS管驅(qū)動(dòng)電路抗干擾性能
    不管什么電路,抗干擾能力都是它的一個(gè)重要指標(biāo),對(duì)于MOS管驅(qū)動(dòng)電路更是如此。因?yàn)镸OS管不是工作在一個(gè)理想的沒有任何電磁干擾的環(huán)境,在一些電磁環(huán)境惡劣的條件下,如果我們的驅(qū)動(dòng)電路設(shè)計(jì)的不盡合理,可能會(huì)出現(xiàn)MOS管誤打開或者非受控關(guān)斷,輕則影響性能,重則會(huì)對(duì)用戶造成傷害。
  • 三極管和MOS管有什么區(qū)別
    三極管和MOS管是電子電路中常見的兩種元器件,它們各自具有獨(dú)特的特點(diǎn)和用途。以下是三極管和MOS管的主要區(qū)別: 一、控制方式不同 三極管:是電流控制型器件。三極管的導(dǎo)通需要在其基極(b極)提供電流,才能使發(fā)射極(e極)和集電極(c極)之間導(dǎo)通。流過ce之間的電流與b極電流的關(guān)系是Ib*β=Ice,其中β稱為三極管的放大倍數(shù)。 MOS管:是電壓控制型器件。MOS管的導(dǎo)通需要提供一定的柵源電壓(Vgs
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  • 解鎖MOS管:溫度估算不再燒腦~
    溫度是影響MOSFET壽命的關(guān)鍵要素之一,為防止過熱導(dǎo)致的MOS失效,使用前進(jìn)行簡單的溫度估算是必要的。MOS管發(fā)熱的主要原因是其工作過程中產(chǎn)生的各種損耗,能量不會(huì)憑空消失,損失的能量最終會(huì)通過轉(zhuǎn)變?yōu)闊崃勘幌牡?,損耗越大發(fā)熱量也隨之越大。在MOSFET開啟的過程中隨著
    1.1萬
    2024/08/08
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  • 反激式電源為什么上電最容易燒MOS管?
    這篇文章總結(jié)一下最近在研究的反激電源RCD吸收回路和VDS尖峰問題。這也是為什么MOS管在開機(jī)容易被電壓應(yīng)力擊穿的原因。下圖是反激電源變壓器部分的拓?fù)洹?/div>
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  • 首屆“薩科微”杯廠BA籃球聯(lián)賽圓滿舉辦
    無籃球,不夏天!今年夏天,「首屆“薩科微”杯廠BA籃球聯(lián)賽」火熱開場!本屆賽事是由德益會(huì)智造 SK廠BA籃球館承辦,Slkor薩科微半導(dǎo)體冠名贊助!自7月5日晚的開幕式至7月16日晚的頒獎(jiǎng)閉幕式,這期間德益會(huì)智造隊(duì)等11支球隊(duì)奮力拼搏,秉持“友誼第一,比賽第二”的賽事精神,用汗水、激情和活力傾力奉獻(xiàn)了29場精彩紛呈、亮點(diǎn)不斷的賽事!Slkor薩科微總經(jīng)理宋仕強(qiáng)先生出席開幕式,期間多次到場觀賽助戰(zhàn),
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  • MOS管的大信號(hào)模型和小信號(hào)模型--電路分析的基礎(chǔ)
    NMOS管,其電路模型可分為大信號(hào)模型和小信號(hào)模型。大信號(hào)模型,是一個(gè)完整的通用的模型,其對(duì)輸入交流信號(hào)沒有要求;而小信號(hào)模型,使用的前提,是輸入交流信號(hào)足夠的小。
  • 對(duì)標(biāo)學(xué)習(xí)世界級(jí)企業(yè) 薩科微Slkor半導(dǎo)體不斷微創(chuàng)新帶來大進(jìn)步!
    我國的科學(xué)研究和先進(jìn)技術(shù),與先進(jìn)國家相比還有差距,這一點(diǎn)還體現(xiàn)在社會(huì)生產(chǎn)效率和人均GDP上面。宋仕強(qiáng)說,我們只有抓住科技進(jìn)步的風(fēng)口如人工智能(AI),再加上公司內(nèi)部的研發(fā)和管理等環(huán)節(jié)的微創(chuàng)新,才可以立于不敗之地。深圳市薩科微半導(dǎo)體有限公司近年來發(fā)展迅速,憑借碳化硅、氮化鎵等新材料、功率器件設(shè)計(jì)加工環(huán)節(jié)的先進(jìn)工藝、高效管理和快速擴(kuò)大生產(chǎn)規(guī)模,不斷降低產(chǎn)品價(jià)格、提高市場的占有率,受到了世界各地客戶的認(rèn)
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  • AMEYA360:MOS管失效的六大原因
    功率器件在近幾年的市場方面發(fā)展的非?;鸨?,尤其是 MOS 管,他主要應(yīng)用在電源適配器,電池管理系統(tǒng)以及逆變器和電機(jī)控制系統(tǒng)中。而隨著計(jì)算器主板,AI 顯卡,服務(wù)器等行業(yè)的爆發(fā),低壓功率 MOS 管將再次迎來爆發(fā)性的市場需求。
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    2024/04/24
  • MOS管參數(shù)解析及國內(nèi)外大廠技術(shù)對(duì)比
    MOSFET的單位面積導(dǎo)通電阻和優(yōu)值系數(shù)(FOM)參數(shù)代表了MOSFET的性能,是各大MOSFET廠商產(chǎn)品參數(shù)展示的關(guān)鍵指標(biāo),也是體現(xiàn)MOSFET芯片制造工藝核心技術(shù)能力的關(guān)鍵指標(biāo)。
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    2024/04/11
    MOS管參數(shù)解析及國內(nèi)外大廠技術(shù)對(duì)比
  • BMS 中的放電 MOS 是怎么燒毀的?
    大多數(shù)人想到的原因要么是自己選的 MOS 耐流能力不夠大,要么就是嫌自己并的不夠多,然而當(dāng)我們換了更大的 MOS 管,或者多并聯(lián)了幾個(gè)后,還是會(huì)出現(xiàn)燒毀的情況,真是捉摸不透啊。其實(shí)并不是我們選擇 MOS 有問題,而是我們電路的設(shè)計(jì)上沒有注意 MOS 的微觀狀態(tài),當(dāng)然一定的降額設(shè)計(jì)和良好的散熱是必不可少的。今天聊一下 BMS 中 MOS 管的過流損壞。我認(rèn)為半導(dǎo)體器件的損壞大體上可以分為三種:機(jī)械損壞,過流燒毀,過壓擊穿。
    BMS 中的放電 MOS 是怎么燒毀的?
  • MOS管參數(shù)解析及國內(nèi)外大廠技術(shù)對(duì)比
    MOSFET的單位面積導(dǎo)通電阻和優(yōu)值系數(shù)(FOM)參數(shù)代表了MOSFET的性能,是各大MOSFET廠商產(chǎn)品參數(shù)展示的關(guān)鍵指標(biāo),也是體現(xiàn)MOSFET芯片制造工藝核心技術(shù)能力的關(guān)鍵指標(biāo)。
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    01/15 14:45
  • 增強(qiáng)型和耗盡型MOS管的區(qū)別和聯(lián)系
    金屬氧化物半導(dǎo)體場效應(yīng)晶體管(Metal-Oxide-Semiconductor Field-Effect Transistor,MOSFET)是一種常見的場效應(yīng)晶體管,在電子學(xué)領(lǐng)域中具有重要應(yīng)用。增強(qiáng)型(Enhancement-mode)MOS管和耗盡型(Depletion-mode)MOS管是兩種常見類型的MOS管。

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