• 正文
    • 1. 概述
    • 2. Testbench構(gòu)建
    • 3. 簡單Testbench
    • 4. 自動驗(yàn)證
    • 5. Self-Checking Testbench
    • 6. 編寫Testbench指南
    • 7.高級Testbench技術(shù)
    • 8.編碼風(fēng)格指南
  • 相關(guān)推薦
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編寫高效的Testbench

2024/10/15
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引言:Testbench是驗(yàn)證HDL設(shè)計(jì)的主要手段,本文提供了布局和構(gòu)建高效Testbench的指南以及示例。另外,本文還提供了一種示例,可以為任何設(shè)計(jì)開發(fā)自檢Testbench。

1. 概述

由于FPGA設(shè)計(jì)規(guī)模和復(fù)雜性的增加,數(shù)字設(shè)計(jì)驗(yàn)證已成為一項(xiàng)越來越困難和費(fèi)力的任務(wù)。為了應(yīng)對這一挑戰(zhàn),驗(yàn)證工程師依靠多種驗(yàn)證工具和方法。對于大型、數(shù)百萬門的設(shè)計(jì),工程師通常使用一套正式的驗(yàn)證工具。然而,對于較小的設(shè)計(jì),設(shè)計(jì)工程師通常使用帶有Testbench的HDL仿真器效果最好,如Modelsim、Vivado Simulator等。

Testbench已成為驗(yàn)證HLL(高級語言)設(shè)計(jì)的標(biāo)準(zhǔn)方法。通常,Testbench執(zhí)行以下任務(wù):

?實(shí)例化被測設(shè)計(jì)(DUT)?通過將測試向量應(yīng)用于模型來激勵DUT?將結(jié)果輸出到終端或波形窗口進(jìn)行目視檢查

?可選擇將實(shí)際結(jié)果與預(yù)期結(jié)果進(jìn)行比較

通常,Testbench是用行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)VHDL或Verilog硬件描述語言編寫的,Testbench調(diào)用功能設(shè)計(jì),然后對其進(jìn)行仿真。復(fù)雜的Testbench還執(zhí)行其他功能,例如,將實(shí)際結(jié)果與預(yù)期結(jié)果進(jìn)行比較的邏輯。圖1顯示了遵循上述步驟的標(biāo)準(zhǔn)HDL驗(yàn)證流程。

圖1:使用Testbench的HDL驗(yàn)證流程由于Testbench是用VHDL或Verilog編寫的,因此Testbench驗(yàn)證流程可以跨平臺和供應(yīng)商工具移植。此外,由于VHDL和Verilog是標(biāo)準(zhǔn)的非專有語言,因此用VHDL或Verilog編寫的驗(yàn)證套件可以在未來的設(shè)計(jì)中毫無困難地重用。

2. Testbench構(gòu)建

由于Testbench僅用于仿真,因此它們不受適用于綜合中使用的RTL語言子集的語義約束的限制。相反,可以使用所有行為構(gòu)造。因此,Testbench可以更通用地編寫,使其更容易維護(hù)。所有Testbench均包含表1所示的基本部分。

表1:試驗(yàn)臺通用截面2.1 生成時鐘信號

激勵時鐘可以很容易地在VHDL和Verilog源代碼中實(shí)現(xiàn)。以下是Testbench中經(jīng)常使用的時鐘生成VHDL和Verilog示例:

VHDL:

Verilog:

2.2 提供激勵

為了獲得Testbench驗(yàn)證結(jié)果,須向DUT提供激勵。在Testbench上使用并發(fā)激勵塊來提供,通常采用兩種方法:絕對時間激勵和相對時間激勵。在第一種方法中,相對于仿真時間零點(diǎn)指定模擬值。相比之下,相對時間激勵提供初始值,然后在重新觸發(fā)激勵之前等待事件。根據(jù)設(shè)計(jì)師的需求,這兩種方法可以在Testbench上結(jié)合使用。

表2和表3分別提供了VHDL和Verilog源代碼中的絕對時間和相對時間激勵的示例。

表2:絕對時間激勵示例表3:相對時間激勵示例

VHDL過程塊和Verilog初始塊與文件中的其他過程和初始塊同時執(zhí)行。然而,在每個(進(jìn)程或初始)塊中,事件是按照寫入的順序執(zhí)行。這意味著激勵序列在模擬時間零點(diǎn)開始于每個并發(fā)塊。推薦使用多個塊將復(fù)雜的激勵序列分解為更可讀和可維護(hù)的代碼塊。

2.3 結(jié)果顯示

Verilog中的$display和$monitor關(guān)鍵字用于顯示結(jié)果。雖然VHDL沒有等效的顯示特定命令,但它提供了std_textio包,該包允許將文件I/O重定向到顯示終端窗口(有關(guān)此技術(shù)的示例,請參閱下面的自檢Testbench)。

以下是Verilog示例,其中值顯示在終端屏幕上:

$display關(guān)鍵字將帶引號的括號文本(“…”)輸出到終端窗口。$monitor關(guān)鍵字的工作方式不同,因?yàn)樗妮敵鍪鞘录?qū)動的。在該示例中,$realtime變量(由用戶分配給當(dāng)前模擬時間)用于觸發(fā)信號列表中值的顯示。Verilog提供了額外的格式說明符,例如,%h用于十六進(jìn)制,%d用于十進(jìn)制,%o用于八進(jìn)制格式。格式化的顯示結(jié)果如圖2所示。

圖2:仿真結(jié)果輸出到終端

2.4 其他語句結(jié)構(gòu)

(1)force/release

force/release語句可用于覆蓋對寄存器或網(wǎng)絡(luò)進(jìn)行的程序分配。這些構(gòu)造通常用于強(qiáng)制特定的設(shè)計(jì)行為。一旦強(qiáng)制值被釋放,信號將保持其狀態(tài),直到新值通過過程賦值傳遞。以下是強(qiáng)制和釋放語句使用的示例:

(2)assign/deassign

賦值和取消賦值語句類似于強(qiáng)制和釋放語句,但賦值和取消指派僅適用于設(shè)計(jì)中的寄存器。它們通常用于設(shè)置輸入值。與強(qiáng)制語句一樣,assign語句會覆蓋過程語句傳遞的值。以下是賦值和取消賦值語句用法的示例。

(3)timescales

時間刻度指令用于指定Testbench的單位時間步長。它也會影響仿真器的精度。此指令的語法為:

`timescale reference_time/precision

reference_time是測量的單位時間。精度決定延遲四舍五入的精度,并設(shè)置仿真的單位時間步長。以下是“時間刻度用法”的示例:

如果仿真使用定時延遲值,則模擬必須以大于最小延遲的精度運(yùn)行(以便包含延遲)。例如,如果在仿真庫中使用9ps延遲,則仿真的精度必須為1ps才能適應(yīng)9ps延遲。

(4)讀取內(nèi)存初始化文件

Verilog提供$readmemb和$readmemh命令來讀取ASCII文件以初始化內(nèi)存內(nèi)容。此命令可用于在模擬中初始化Xilinx BlockRAM或SelectRAM組件。語法如下:

$readmemb(“<design.mif>”,design_instance);

3. 簡單Testbench

簡單的Testbench實(shí)例化用戶設(shè)計(jì),然后為其提供激勵。Testbench輸出以圖形方式顯示在仿真器的波形窗口上,或作為文本發(fā)送到用戶終端或文本文件。

下面是一個代表移位寄存器的簡單Verilog設(shè)計(jì):

以下簡單的Testbench示例實(shí)例化了移位寄存器設(shè)計(jì)。

上面的Testbench實(shí)例化設(shè)計(jì),設(shè)置時鐘,然后提供激勵。所有過程塊都從模擬時間零點(diǎn)開始,并且是并發(fā)的。符號(#)指定應(yīng)用下一個激勵之前的延遲。$stop命令指示仿真器停止Testbench仿真(所有Testbench都應(yīng)包含stop命令)。最后,$monitor語句將ASCII格式的結(jié)果返回到屏幕或本編輯器。

下面是一個VHDL Testbench,它實(shí)例化并為上述Verilog移位寄存器設(shè)計(jì)提供激勵。

4. 自動驗(yàn)證

建議自動化Testbench結(jié)果驗(yàn)證,特別是對于較大的設(shè)計(jì)。自動化減少了檢查設(shè)計(jì)正確性所需的時間,并最大限度地減少了人為錯誤。通常使用幾種方法來自動化Testbench驗(yàn)證:

(1)數(shù)據(jù)庫比較:首先,創(chuàng)建一個包含預(yù)期輸出的數(shù)據(jù)庫文件(“黃金向量”文件)。然后,捕獲仿真輸出并將其與黃金向量文件中的參考向量進(jìn)行比較。這種方法的缺點(diǎn)是由于沒有提供從輸出到輸入文件的指針,難以將不正確的輸出追蹤到錯誤的來源。

(2)波形比較:波形比較可以自動或手動執(zhí)行。自動方法采用Testbench比較器將黃金波形與Testbench輸出波形進(jìn)行比較。Xilinx HDL Bencher工具可用于執(zhí)行自動波形比較。

(3)Self-Checking Testbench。自檢Testbench在運(yùn)行時,而不是在仿真結(jié)束時,根據(jù)實(shí)際結(jié)果檢查預(yù)期結(jié)果。由于可以在Testbench上構(gòu)建有用的錯誤跟蹤信息來顯示設(shè)計(jì)失敗的地方,因此調(diào)試時間大大縮短。

5. Self-Checking Testbench

自檢Testbench是通過在Testbench文件中放置一系列預(yù)期向量來實(shí)現(xiàn)的。這些向量在定義的運(yùn)行時間間隔與實(shí)際仿真結(jié)果進(jìn)行比較。如果實(shí)際結(jié)果與預(yù)期結(jié)果匹配,則仿真成功。如果結(jié)果與預(yù)期不符,Testbench會報(bào)告差異。

對于同步設(shè)計(jì)來說,實(shí)現(xiàn)自檢Testbench更簡單,因?yàn)榭梢栽跁r鐘邊緣或每個“n”個時鐘周期后比較預(yù)期和實(shí)際結(jié)果。比較方法也取決于設(shè)計(jì)的性質(zhì)。例如,內(nèi)存I/O自檢Testbench應(yīng)在每次向內(nèi)存位置寫入或從內(nèi)存位置讀取新數(shù)據(jù)時檢查結(jié)果。同樣,如果一個設(shè)計(jì)使用了大量的組合塊,在指定預(yù)期結(jié)果時必須考慮組合延遲。

在自檢自檢Testbench上,以規(guī)則的運(yùn)行時間間隔將預(yù)期輸出與實(shí)際輸出進(jìn)行比較,以提供自動錯誤檢查。這種技術(shù)在中小型設(shè)計(jì)中效果很好。然而,由于可能的輸出組合隨著設(shè)計(jì)復(fù)雜性呈指數(shù)級增長,為大型設(shè)計(jì)編寫自檢Testbench變得更加困難和耗時。

以下是用Verilog和VHDL編寫的簡單自檢Testbench的示例:Verilog示例

這種簡單的自檢Testbench設(shè)計(jì)可以移植到任何測試用例中。如果不需要在每個時鐘沿進(jìn)行檢查,則可以根據(jù)需要修改for循環(huán)。如果仿真成功,終端屏幕上會顯示以下信息:

VHDL示例:

如果檢測到錯誤,則會在仿真器提示下顯示:

6. 編寫Testbench指南

本節(jié)提供了編寫Testbench的指南,規(guī)劃Testbench布局可以提高仿真驗(yàn)證結(jié)果。

(1)在編寫Testbench之前,了解仿真器。

盡管常用的仿真工具符合HDL行業(yè)標(biāo)準(zhǔn),但這些標(biāo)準(zhǔn)并沒有解決幾個重要的仿真特定問題。不同的模擬器具有不同的特性、能力和性能特征,并產(chǎn)生不同的仿真結(jié)果。

(2)基于事件的仿真與基于周期的仿真

仿真器器使用基于事件或基于周期的仿真方法。基于事件的仿真器在輸入、信號或門改變值時安排仿真器事件。在基于事件的仿真器中,延遲值可以與門和網(wǎng)絡(luò)相關(guān)聯(lián),以實(shí)現(xiàn)最佳的時序模擬?;谘h(huán)的仿真器以同步設(shè)計(jì)為目標(biāo)。它們優(yōu)化組合邏輯,并在時鐘周期內(nèi)分析結(jié)果。此功能使基于循環(huán)的仿真器比基于事件的仿真器更快、更節(jié)省內(nèi)存。然而,由于基于循環(huán)的仿真器不允許詳細(xì)的時序特異性,因此它們的準(zhǔn)確性不高。

(3)避免使用無限循環(huán)

當(dāng)一個事件被添加到基于事件的仿真器中時,CPU和內(nèi)存的使用率會增加,仿真處理速度也會減慢。除非對Testbench至關(guān)重要,否則不應(yīng)使用無限循環(huán)來提供設(shè)計(jì)激勵。通常,時鐘是在無限循環(huán)內(nèi)指定的(例如,Verilog中的“永遠(yuǎn)”循環(huán)),而不是其他信號事件。

(4)將激勵分解為邏輯塊

在Testbench中,所有初始(Verilog)和過程(VHDL)塊同時運(yùn)行。如果將無關(guān)的激勵分為單獨(dú)的塊,則Testbench激勵序列更容易實(shí)施和審查。由于每個并發(fā)塊都相對于模擬時間零點(diǎn)運(yùn)行,因此使用單獨(dú)的塊更容易傳遞激勵。使用單獨(dú)的激勵塊可以使Testbench更容易創(chuàng)建、維護(hù)和升級。

(5)避免顯示不重要的數(shù)據(jù)

大型設(shè)計(jì)的Testbench可能包含超過100000個事件和大量信號。顯示大量仿真數(shù)據(jù)會大大減慢仿真速度。最好每“n”個時鐘周期只對相關(guān)信號進(jìn)行采樣,以確保足夠的仿真速度。

7.高級Testbench技術(shù)

(1)用task任務(wù)和process過程模塊化激勵

在創(chuàng)建更大的Testbench時,應(yīng)該對激勵進(jìn)行分區(qū),以幫助代碼清晰并便于修改,并使代碼更具可讀性。以下示例中,Testbench模擬了SDRAM控制器的設(shè)計(jì)。該設(shè)計(jì)包括重復(fù)激勵塊,因此Testbench通過聲明單獨(dú)的任務(wù)來劃分激勵,這些任務(wù)稍后在Testbench中調(diào)用以執(zhí)行單獨(dú)的設(shè)計(jì)功能。

Verilog示例:

這些任務(wù)指定了設(shè)計(jì)功能的單獨(dú)元素,包括讀寫、數(shù)據(jù)讀寫或nop(無操作)。一旦指定,這些任務(wù)可以在激勵過程中調(diào)用,如下所示:

VHDL示例:

(2)仿真中雙向信號的控制

大多數(shù)設(shè)計(jì)使用雙向信號,在Testbench上必須與單向信號區(qū)別對待。

VHDL示例:

要訪問上述示例中的雙向DATA信號,可以按如下方式設(shè)置Testbench:

雙向總線由Testbench控制,雙向總線的值通過data_top信號訪問。

Verilog示例:

Verilog Testbench可以按如下方式設(shè)置:

8.編碼風(fēng)格指南

(1)縮進(jìn)

始終縮進(jìn)代碼以使其更具可讀性。建議縮進(jìn)寬度為三到四個空格。縮進(jìn)寬度為五個或更多空格通常會在右邊距留下很少的空間,而縮進(jìn)寬度小于三個空格則會導(dǎo)致縮進(jìn)太小。

(2)文件命名

在源文件名中始終保持“.v”(Verilog)或“.vhd”(VHDL)文件擴(kuò)展名。如果這些標(biāo)準(zhǔn)擴(kuò)展名被更改,一些編輯器和過濾器將無法識別源文件。

(3)信號命名

對所有用戶信號使用相同的大小寫(建議使用小寫)。Verilog是區(qū)分大小寫的,錯誤的大寫可能會導(dǎo)致設(shè)計(jì)在綜合和仿真中失敗。此外,使用一致的信號名稱格式樣式使信號名稱更容易在源文件中定位。使用簡短的描述性信號名稱。短名稱更容易輸入,描述性名稱有助于記錄信號功能。

(4)注釋

自由地注釋Testbench代碼。注釋對于繼承和重用代碼的其他人來說是無價的,注釋代碼填充了重要的細(xì)節(jié),大大提高了源代碼的清晰度和可重用性

(5)設(shè)計(jì)結(jié)構(gòu)

為每個模塊或?qū)嶓w保留一個物理文件。單獨(dú)的模塊和實(shí)體的單獨(dú)文件使設(shè)計(jì)更容易維護(hù)。

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專注FPGA技術(shù)開發(fā),涉及Intel FPGA、Xilinx FPGA技術(shù)開發(fā),開發(fā)環(huán)境使用,代碼風(fēng)格、時序收斂、器件架構(gòu)以及軟硬件項(xiàng)目實(shí)戰(zhàn)開發(fā),個人公眾號:FPGA技術(shù)實(shí)戰(zhàn)。