泰克助力高效功率器件評估,深度解析功率半導體雙脈沖測試
在當今快速發(fā)展的電力電子技術(shù)領(lǐng)域,功率半導體器件的性能優(yōu)化至關(guān)重要。雙脈沖測試(DPT)作為一種關(guān)鍵的測試方法,為功率器件的動態(tài)行為評估提供了精準的手段。本文將深入解析雙脈沖測試的原理、應(yīng)用及泰克科技在這一領(lǐng)域的先進解決方案,并介紹泰克專家高遠新書的相關(guān)內(nèi)容。 雙脈沖測試的目標參數(shù) 在設(shè)計功率轉(zhuǎn)換器時,理想狀態(tài)是功率損耗為零,但現(xiàn)實中開關(guān)損耗不可避免。傳統(tǒng)的硅基轉(zhuǎn)換器效率約為87%至90%,這意味