EUV掩膜版清洗技術(shù)挑戰(zhàn)及解決方案
EUV(極紫外光)掩膜版是現(xiàn)代半導(dǎo)體制造工藝中關(guān)鍵的元件之一,在集成電路的光刻過程中扮演著至關(guān)重要的角色。由于EUV技術(shù)的精密性和高要求,掩膜版的質(zhì)量直接影響到最終成品的良率。而在這些技術(shù)中,清洗掩膜版是一個不可忽視的環(huán)節(jié)。盡管EUV掩膜版的清洗步驟相較于硅片的清洗流程較少,但其面臨的挑戰(zhàn)卻異常復(fù)雜,主要體現(xiàn)在顆粒去除、材料損傷、污染控制等方面。