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DDR內(nèi)存接口檢驗和調(diào)試

初級課程
2015/11/18
8
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本視頻教程講解怎樣準(zhǔn)備基于DDR的下一代內(nèi)存測試。了解這些新標(biāo)準(zhǔn)給電接口檢驗帶來的變化，及怎樣準(zhǔn)備好正確地接入LPDDR3和DDR4內(nèi)存系統(tǒng)的信號。提前了解并規(guī)劃正確選擇所需的儀器，在這些新興標(biāo)準(zhǔn)上執(zhí)行電接口檢驗。

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內(nèi)存接口電氣驗證和調(diào)試

DDR 存儲器電接口檢驗

使用泰克示波器可視觸發(fā)功 能調(diào)試內(nèi)存接口

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泰克設(shè)計和制造能夠幫助您測試和測量各種解決方案，從而突破復(fù)雜性的層層壁壘，加快您的全局創(chuàng)新步伐。 我們攜手共進(jìn)，一定能夠幫助各級工程師更方便、更快速、更準(zhǔn)確地創(chuàng)造和實現(xiàn)技術(shù)進(jìn)步。 泰克推出的各種解決方案在過去這 70 年間，為許多人類重大進(jìn)步提供了強有力的支持。

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