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新思科技（Synopsys）近日發(fā)布 3nm 全環(huán)柵（GAA）AMS 設(shè)計(jì)參考流程，為開發(fā)者提供一整套從前端到后端的設(shè)計(jì)方法，以使用新思科技定制設(shè)計(jì)平臺(tái)來設(shè)計(jì)模擬和混合信號(hào)電路。該方法已經(jīng)過優(yōu)化，可為使用三星 3nm GAA 工藝節(jié)點(diǎn)技術(shù)的 5G、HPC、AI 和 IoT 等先進(jìn)應(yīng)用的開發(fā)者，提供最高的設(shè)計(jì)效率。
先進(jìn)節(jié)點(diǎn)的復(fù)雜性驅(qū)使開發(fā)者尋找縮短設(shè)計(jì)周期的新方法。通過緊密合作，新思科技和三星提供了經(jīng)優(yōu)化的流程，可克服設(shè)計(jì)復(fù)雜性并為 3nm GAA 設(shè)計(jì)提供最佳的生產(chǎn)率。該流程的主要功能包括設(shè)計(jì)中的電遷移分析，開發(fā)者可在版圖完成之前通過該流程提供的準(zhǔn)確的電遷移分析來縮短設(shè)計(jì)完成時(shí)間。AMS 設(shè)計(jì)參考流程還包括新思科技 IC Validator 物理驗(yàn)證解決方案中的實(shí)時(shí)設(shè)計(jì)規(guī)則檢查（DRC），版圖開發(fā)者可在工作時(shí)基于 DRC 直接從版圖畫布中快速檢查是否違反設(shè)計(jì)規(guī)則。
AMS 參考流程為 3nm GAA 流程技術(shù)的設(shè)計(jì)提供了一種行之有效的方法。該方法包括一整套文件化的流程和設(shè)計(jì)實(shí)例，并已得到三星的驗(yàn)證。AMS 參考流程涵蓋的主題包括設(shè)計(jì)輸入、電路仿真、蒙特卡洛分析、噪聲分析、RF 分析、老化和 EM/IR 分析、寄生參數(shù)仿真、定制版圖和簽核。
“借助新思科技 AMS 參考流程，開發(fā)者可以將 3nm GAA 技術(shù)快速部署在要求嚴(yán)苛的應(yīng)用，如人工智能、5G 網(wǎng)絡(luò)、汽車、物聯(lián)網(wǎng)和先進(jìn)數(shù)據(jù)中心。新思科技支持的先進(jìn)方法學(xué)可以幫助我們內(nèi)部的 IP 開發(fā)者和客戶更有效地創(chuàng)建模擬和混合信號(hào)設(shè)計(jì)。”
——Sangyun Kim
電子代工廠設(shè)計(jì)技術(shù)團(tuán)隊(duì)副總裁
三星
新思科技定制設(shè)計(jì)平臺(tái)以 Custom Compiler™設(shè)計(jì)和版圖環(huán)境為基礎(chǔ)，包括 HSPICE®電路仿真器、FineSim®電路仿真器、CustomSim™ FastSPICE 電路仿真器、Custom WaveView™波形顯示器、StarRC™寄生參數(shù)提取以及 IC Validator 物理驗(yàn)證。該平臺(tái)具有原生集成的 StarRC 提取功能，可提供寄生參數(shù)對(duì)電路行為、性能影響的早期反饋，并具有開創(chuàng)性的視覺輔助版圖自動(dòng)化功能，從而簡(jiǎn)化先進(jìn)節(jié)點(diǎn)版圖的創(chuàng)建。
“在開發(fā) 3nm GAA AMS 設(shè)計(jì)參考流程中，三星和新思科技共同致力于以實(shí)現(xiàn)強(qiáng)大的技術(shù)來縮短設(shè)計(jì)周期。例如，新思科技參考流程中包括了一種用于早期電遷移分析的全新解決方案，這可大大縮短了設(shè)計(jì)的完成時(shí)間。”
——Aveek Sarkar
工程副總裁
新思科技
