深入淺出介紹功率放大器(PA)記憶效應是什么?

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一、引言

記憶效應是由放大器傳輸特性的時間變化引起的。由于射頻功率放大器的作用是向天線端口提供穩(wěn)定且可預測的功率,因此任何關于其特性變化的提及都可能引發(fā)關注。

然而,實際情況并不像聽起來那么嚴重。記憶效應并不會影響線性放大器的正常工作。它們僅表現(xiàn)為失真幅度隨時間的變化。因此,即使在失真低于規(guī)格的非線性放大器中,也可以安全地忽略記憶效應。然而,當失真超過規(guī)格且放大器需要線性化時,考慮記憶效應就顯得尤為重要。

本文將討論記憶效應、其產(chǎn)生的原因以及應對方法。

二、記憶的本質

記憶被定義為激勵(輸入)與響應(輸出)之間的時間差。只有當施加激勵的系統(tǒng)具有減緩激勵速度的手段時,才會出現(xiàn)記憶效應。這些手段是能夠存儲電磁能量的組件,例如電感電容。由于每個放大器都至少包含寄生電感和電容,因此我們應該得出結論:不存在無記憶的放大器。然而,記憶影響放大器工作的唯一方式是通過其失真。

為了使預失真技術發(fā)揮作用,我們需要對功率放大器(PA)的非線性行為進行準確表征。如果功率放大器的輸出僅是其當前輸入的函數(shù),那么這一過程相對簡單。然而,在實際應用中,功率放大器的輸出是當前輸入值和過去輸入值的函數(shù)。這種被稱為記憶效應的現(xiàn)象如圖1所示。

圖1. 由于記憶效應,輸出是當前輸入值和過去輸入值的函數(shù)。

當系統(tǒng)的輸出是其輸入的精確副本(除了輸出幅度的變化和恒定的時間延遲)時,該系統(tǒng)被稱為“無失真系統(tǒng)”。換句話說,無失真系統(tǒng)在輸出端重復其輸入,不做任何修改,而記憶所做的只是在輸入和輸出之間引入一個恒定的相位偏移。顯然,第一個定義適用于時域,而第二個定義適用于頻域。只有當晶體管開始在其I-V曲線的非線性區(qū)域工作時,才會引入失真(對輸入信號的修改)。在非線性工作模式下,輸入和輸出之間的相位偏移不再是恒定的,而是頻率依賴的,時間延遲也不是恒定的。時域中的時間依賴性轉化為頻域中相位偏移的頻率依賴性。

當記憶效應發(fā)揮作用時,PA的非線性響應不再是靜態(tài)的。相反,它會隨時間發(fā)生變化。例如,在圖2中,記憶效應表現(xiàn)為功率放大器響應中的滯后現(xiàn)象。

圖2. PA響應中的滯后效應。

三、記憶效應的實現(xiàn)

記憶僅影響放大器的非線性工作模式。放大器的非線性表現(xiàn)為增益變化(壓縮或擴展)以及產(chǎn)生額外的(所謂的“互調”)產(chǎn)物。為什么會產(chǎn)生額外的產(chǎn)物是直觀上可以理解的(時域中信號的總功率由頻域中的頻譜分量表示;它們的組合必須保持恒定且等于總功率的值;因此,如果其中一個分量由于壓縮而減少,其他分量就會出現(xiàn)),并且這得到了帕塞瓦爾定理的證實。

記憶影響生成的互調產(chǎn)物(IM)的方式是通過具有頻率依賴的相位。相位的重要性在于,只有當兩個或多個產(chǎn)物相加時(這發(fā)生在它們落在同一頻率上時),結果幅度才會取決于它們的相位。在非線性晶體管中,確實有幾個IM產(chǎn)物落在同一頻率上。這是因為晶體管非線性的本質。

通常對放大器線性度的評估是基于以下假設:輸入信號是完全線性的,晶體管由一個整體非線性表示,并且所有可以過濾掉的不需要的產(chǎn)物(即那些離載波頻率不太近的產(chǎn)物)確實被過濾掉了。在這種情況下,初始頻率上不會出現(xiàn)額外的IM產(chǎn)物,晶體管被認為具有無限薄的厚度(換句話說,是無記憶的),因此,它不會在相同階數(shù)的IM產(chǎn)物之間表現(xiàn)出幅度變化。

然而,這不是一個現(xiàn)實的模型。晶體管本身必須具有記憶,因為它不是無限薄的,所以它會減緩輸入(由于寄生電容),并且當晶體管在非線性模式下工作時,記憶效應就會顯現(xiàn)出來。其工作可以看作是兩個背靠背二極管的組合,它們共享一個共同的基區(qū)(例如,吉梅爾-普恩模型就是基于這一原理);二極管本質上是一個非線性器件;因此,它應該具有兩個非線性,即輸入非線性和輸出非線性。

從基本的RC電路到數(shù)字有限脈沖響應(FIR)濾波器,許多電路都表現(xiàn)出對歷史輸入值的依賴性。例如,考慮圖3所示的RC電路。

圖3. 若不了解過去的輸入值,便無法確定簡單RC電路的瞬態(tài)響應。

上述電路在給定時刻的瞬態(tài)輸出電壓,不能僅由該時刻的輸入電壓激勵來描述。我們還需要了解輸入信號過去的值。電容器電感器會在模擬電路中引入記憶效應。

輸入非線性應被視為無記憶的,因為晶體管的基區(qū)相對于其主體來說非常薄。然而,由于無法過濾掉不需要的IM輸入產(chǎn)物,因此假設它們都存在。二階產(chǎn)物與自身以及其中一個基頻混合以產(chǎn)生三階產(chǎn)物,該產(chǎn)物落在輸出非線性產(chǎn)生的三階產(chǎn)物頻率上(見文末表格)。

然而,輸出非線性應該具有記憶,因為信號需要時間通過晶體管傳播。這種記憶表現(xiàn)為相位對頻率的依賴性,影響落在輸出IM上的所有產(chǎn)物。因此,結果幅度將取決于該頻率上所有產(chǎn)物相位之間的關系。

記憶也是由雙音輸入產(chǎn)生的三階產(chǎn)物(IMD3)幅度變化的原因。IMD3的頻率取決于初始音之間的頻率差:如文末表格所示,IMD3頻率為2α-β;基頻之間的頻率差為α-β;IMD3與基頻之間的頻率差為(2α-β)–(α)=α-β,這與基頻之間的頻率差相同。由于記憶表現(xiàn)為相位-頻率依賴性,因此IMD3的相位將隨著該頻率差的變化而變化。相位變化將轉化為該頻率上所有產(chǎn)物相位之間關系的變化,這意味著結果IMD3幅度將取決于音之間的頻率差。

因此,記憶通過晶體管的雙重非線性影響其工作。當相位頻率依賴的IM產(chǎn)物被組合時,記憶效應就會顯現(xiàn)出來。結果是IM產(chǎn)物的幅度隨頻率變化。

處理具有非恒定幅度的寬帶信號的功率放大器會同時表現(xiàn)出靜態(tài)失真和記憶效應。靜態(tài)非線性相對容易測量:我們只需將功率放大器的輸出連接到具有足夠動態(tài)范圍和分辨率帶寬的頻譜分析儀即可。

為了觀察記憶效應,我們通常采用圖4中更為復雜的測試設置。

圖4. PA的輸出被解調并數(shù)字化,以便與原始輸入信號進行直接比較。

在上述圖中,x(i)和y(i)分別表示數(shù)字輸入信號和數(shù)字輸出信號。用于生成y(i)的觀察路徑包括一個耦合器,用于對功率放大器的輸出進行采樣,以及一個接收器,用于將射頻信號轉換為對應的數(shù)字化值。

一旦我們知道了x(i)和y(i)的值,就可以采用諸如均方誤差等技術來估算功率放大器的標稱增益。標稱增益的偏差是由功率放大器的非線性特性引起的。圖5展示了通過繪制輸出幅度與輸入幅度的關系圖,我們可以研究功率放大器的飽和行為。

圖5. 具有記憶效應的非線性PA的典型傳輸特性。

在較高的輸入電平下,輸出開始飽和,這意味著輸出不再隨輸入線性增加。這種在高功率電平下增益的減小被稱為增益壓縮。

在已知x(i)和y(i)的情況下,我們還可以測量功率放大器的AM-to-AM和AM-to-PM響應。正如我們將在下一節(jié)中討論的,我們可以利用這些特性來量化實際功率放大器的色散效應。具有色散效應的功率放大器對于給定的輸入值會有多個輸出值。與作為靜態(tài)非線性形式之一的增益壓縮不同,色散效應是由功率放大器的記憶效應引起的。

AM-to-AM響應被定義為PA增益的幅度與輸入信號幅度的關系。類似地,AM-to-PM響應則是功率放大器增益的相位與輸入信號幅度的關系。

為了評估功率放大器的性能,我們首先生成所需的基帶信號,并將其傳輸?shù)?a class="article-link" target="_blank" href="/baike/1604252.html">任意波形發(fā)生器(AWG)中。AWG會對基帶信號進行調制并上變頻到射頻。然后,我們將這個射頻信號施加到功率放大器上,并使用矢量信號分析儀捕獲其輸出,該分析儀會將信號轉換回基帶并進行數(shù)字化處理。

通過比較原始基帶信號和處理后的基帶信號,我們可以有效地分析功率放大器的記憶效應。

圖6. 具有記憶效應的PA的實測(a)?AM/AM和(b)?AM/PM

四、補償方法

記憶效應使功率放大器線性化的任務變得復雜。線性化的目標是補償由于增益壓縮而產(chǎn)生的IM產(chǎn)物(如前一節(jié)所述)。由于記憶效應使IM產(chǎn)物的幅度成為頻率依賴的,并且這種依賴性的模式難以預測,因此很難找到一種通用的補償方法。

一種流行的線性化方法是基于反饋。這種技術通過采樣輸出、反饋并修改輸入信號來糾正輸出非線性。為了適應記憶效應,輸出采樣是在時間幀的幾個增量上進行的,并且需要對每個采樣實例進行校正。

然而,這種方法有其局限性。它的效果取決于采樣的實例數(shù)量,并且計算密集。處理記憶效應的更好方法是消除其產(chǎn)生的原因——即消除落在IMD3頻率上的其他IM產(chǎn)物的貢獻。如前一節(jié)所述,這些產(chǎn)物是包絡產(chǎn)物和二次諧波。然而,包絡產(chǎn)物的幅度是二次諧波的兩倍(見文末表格)。因此,分流包絡產(chǎn)物應能大大減少記憶效應,這在文獻中得到了證實。這一結果依賴于記憶(即,它應取決于晶體管尺寸),然而,幅度上的顯著差異使得二次諧波產(chǎn)物在所有引起記憶效應的實例中對包絡產(chǎn)物的影響都較小。

當然我們現(xiàn)在實際使用的主流技術是數(shù)字預失真(DPD),預失真電路需要展現(xiàn)出與功率放大器相反的傳輸特性,如圖7所示。這樣,預失真器與功率放大器的組合響應就會變?yōu)榫€性。如果功率放大器的行為是準靜態(tài)的,那么確定合適的預失真函數(shù)就會更加直接。在這種情況下,我們可以假設功率放大器的輸出幅度與輸入信號之間存在固定的、單調的關系。

圖7. DPD系統(tǒng)的框圖展示了它如何對功率放大器進行線性化。

在不存在記憶效應的情況下,輸出信號的值僅由當前的輸入值決定。因此,我們可以記錄功率放大器的非線性行為,并將這些數(shù)據(jù)編碼到一個查找表中,然后可以利用這個查找表來實現(xiàn)一個數(shù)字預失真系統(tǒng),如圖8所示。

圖8. 一個基于查找表(LUT)的開環(huán)預失真系統(tǒng)。

圖9是DPD前后AM/AM和AM/PM曲線的測試結果,從測試結果我們可以看到無論是AM/AM曲線還是AM/PM曲線,在DPD校準前測試數(shù)據(jù)都很離散,但是在DPD校準后,測試數(shù)據(jù)變得緊湊。

圖9. DPD系統(tǒng)對PA AM/AM和AM/PM參數(shù)的優(yōu)化。

然而,如果存在記憶效應,我們就需要對PA的記憶效應進行建模。實現(xiàn)這一目的的技術包括Volterra級數(shù)、Wiener模型以及記憶多項式模型。隨后,我們將這些模型整合到我們的預失真線性化器中,下節(jié)我們將具體介紹一下。

五、公式

到目前為止,我們已經(jīng)對記憶是什么、它是如何實現(xiàn)的以及如何消除其影響有了一個大致的了解。然而,為了準確預測記憶行為并找到具體的補償方法,我們需要對其效應進行良好的數(shù)學描述。這種描述通常以基于Volterra級數(shù)的晶體管數(shù)學模型的形式出現(xiàn)。

晶體管模型是用于預測給定輸入下的輸出的表達式。一般來說,它是一個復雜的非線性函數(shù);然而,可以使用函數(shù)擬合方法對其進行簡化,即使用級數(shù)來表示函數(shù)。

任何非線性數(shù)學函數(shù)都可以用泰勒級數(shù)表示,隨著多項式階數(shù)的增加,表示的準確性也會提高,這是數(shù)學家?guī)讉€世紀以來使用的方法。晶體管的非線性通常用這種形式的多項式表示:

y = ax + bx2 + cx3 + … (1)

其中x是輸入,y是輸出。

如果我們找到系數(shù)a、b、c…,我們就能夠根據(jù)輸入預測輸出。它們通常是從曲線擬合提取模型中找到的。

這種表示的問題在于它沒有包含記憶的手段。為了捕捉記憶效應,我們需要在幾個時間實例上使用(1),然后組合結果(如前一節(jié)所述)。這就是Volterra級數(shù)的工作原理。

線性系統(tǒng)中的記憶通過以下卷積積分來考慮(這是通過脈沖響應對系統(tǒng)進行獨特表征的結果)。

其中:x是輸入,y是輸出,h是從輸入到輸出的脈沖響應。因此,t是激勵時間,τ是響應時間,而t-τ是系統(tǒng)記憶時間。

Volterra將線性系統(tǒng)的表示式(2)擴展到了非線性系統(tǒng)。他的方法與泰勒級數(shù)(1)類似,但不同的是,他沒有使用同一輸入(x, x2, x3…)的冪級數(shù),而是使用了在不同時間實例上的一系列積分算子:

也就是說,Volterra級數(shù)并非在任意時間都使用相同的輸入x,而是呈現(xiàn)特定時間點的輸入值并對它們進行積分。如果系統(tǒng)中沒有記憶效應,那么 x(τi)就不會有時間依賴性,它們都會是相同的值,此時Volterra級數(shù)就會退化為泰勒級數(shù)。

與泰勒級數(shù)一樣,Volterra級數(shù)的目標也是找到被稱為核函數(shù)的系數(shù)。然而,這比在無記憶情況下找到系數(shù)要困難得多,原因是這些系數(shù)是相互關聯(lián)的。此外,并非所有函數(shù)都能轉換為Volterra級數(shù),這也帶來了額外的問題。雖然存在解決方案和變通方法,但由于本文的目的是解釋記憶效應的工作原理,因此這里并不討論這些內(nèi)容。關于Volterra級數(shù)在射頻功率放大器中的具體應用,讀者可以查閱相關文獻。

結論

本文介紹并解釋了功率放大器中的記憶效應概念。研究表明,記憶效應表現(xiàn)為非線性放大器失真幅度的時變特性。換句話說,只有當失真超過規(guī)格且放大器需要線性化時,才需要考慮記憶效應。在頻域中,記憶效應表現(xiàn)為互調產(chǎn)物的相位隨頻率變化。

研究表明,晶體管是一個具有雙重非線性(輸入和輸出)的器件。它會導致部分輸入互調產(chǎn)物出現(xiàn)在輸出互調產(chǎn)物的頻率上,并在這些頻率上以各自特定的相位相加。這使得結果互調產(chǎn)物的幅度成為頻率依賴的,這正是記憶效應的本質。

記憶效應的實現(xiàn)取決于互調產(chǎn)物幅度對頻率的依賴性。解決記憶效應的最佳方法是進行補償。研究表明,最大的輸入互調產(chǎn)物出現(xiàn)在包絡頻率上,因此,在減少記憶效應時,應優(yōu)先對其進行補償。

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