• 正文
    • 研磨技術(shù):晶圓減薄與表面平整化
    • 拋光技術(shù):原子級(jí)表面精修
    • 行業(yè)技術(shù)挑戰(zhàn)與未來方向
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半導(dǎo)體超精密加工的核心:研磨與拋光

02/14 08:49
1995
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半導(dǎo)體制造是典型的“精度至上”領(lǐng)域,尤其在前道晶圓加工和后道封裝環(huán)節(jié)中,研磨(Grinding)與拋光(Polishing)技術(shù)直接決定了器件的性能和良率。以下從技術(shù)原理、工藝難點(diǎn)及行業(yè)趨勢(shì)三方面展開分析。

研磨技術(shù):晶圓減薄與表面平整化

原理:
研磨通過機(jī)械去除與化學(xué)協(xié)同作用實(shí)現(xiàn)材料精密去除。傳統(tǒng)研磨依賴金剛石等超硬磨料的機(jī)械切削,而新型工藝結(jié)合化學(xué)腐蝕(如機(jī)械化學(xué)研磨),可減少表面損傷并提升效率。

技術(shù)難點(diǎn):

應(yīng)力控制:機(jī)械研磨易引入微裂紋和殘余應(yīng)力,需通過優(yōu)化磨粒尺寸、壓力及冷卻液流量降低損傷。

均勻性:300mm大尺寸晶圓的研磨需保證全片厚度誤差<±1μm,基片尺寸增大導(dǎo)致研磨均勻性難以控制

趨勢(shì):

超薄晶圓加工:針對(duì)3D封裝需求,減薄至20μm以下,需結(jié)合臨時(shí)鍵合/解鍵合技術(shù)。

復(fù)合工藝:機(jī)械研磨+濕法刻蝕,提升效率并減少缺陷。

拋光技術(shù):原子級(jí)表面精修

化學(xué)機(jī)械拋光(CMP):半導(dǎo)體拋光以CMP為主,通過化學(xué)腐蝕與機(jī)械研磨的協(xié)同作用,實(shí)現(xiàn)表面原子級(jí)平整(粗糙度<0.1nm)。

關(guān)鍵要素:

拋光液:含納米SiO?或CeO?顆粒的化學(xué)試劑,根據(jù)材料(Si、SiO?、Cu等)定制配方。

拋光墊:多孔聚氨酯材料,需定期修整以維持表面形貌一致性。

挑戰(zhàn):

材料選擇性:多層結(jié)構(gòu)中不同材料(如Cu與介電層)的同步拋光速率控制。

缺陷控制:微劃痕、殘留顆粒的檢測(cè)與抑制(需原位清洗+兆聲波輔助)。

新興技術(shù):

電化學(xué)拋光(ECMP):用于銅互連的無應(yīng)力拋光,減少碟形坑(Dishing)。

等離子體拋光:針對(duì)金剛石、GaN、SiC等寬禁帶材料,實(shí)現(xiàn)非接觸式高精度加工。

行業(yè)技術(shù)挑戰(zhàn)與未來方向

第三代半導(dǎo)體的加工瓶頸:

金剛石、SiC、GaN等高硬度材料對(duì)磨拋設(shè)備提出更高要求(如SiC晶圓的研磨效率僅為硅的1/10),推動(dòng)激光輔助加工、等離子體刻蝕等復(fù)合工藝發(fā)展。

大尺寸與高集成度需求:
450mm晶圓與GAA晶體管結(jié)構(gòu)要求拋光全局平整度達(dá)到0.5nm以內(nèi),驅(qū)動(dòng)多區(qū)壓力調(diào)節(jié)拋光頭、智能在線監(jiān)測(cè)系統(tǒng)升級(jí)。

綠色制造與成本控制:
拋光液回收、低耗材工藝(如固定磨料拋光墊)成為行業(yè)焦點(diǎn),同時(shí)AI驅(qū)動(dòng)的工藝參數(shù)優(yōu)化可降低20%以上能耗。

無錫鑫磊精工科技有限公司

無錫鑫磊精工科技有限公司作為一家專業(yè)從事超精密研磨拋光材料、研磨工藝及相關(guān)設(shè)備的研發(fā)、生產(chǎn)和經(jīng)營(yíng)的企業(yè),針對(duì)三代半導(dǎo)體均有不同的研磨拋光解決方案,完美解決了目前市面上的半導(dǎo)體的磨拋問題。

提供全套的研磨拋光解決方案:

襯底客戶:提供化合物半導(dǎo)體研磨機(jī)、拋光機(jī)、粗磨液、精磨液、粗拋液和CMP拋光液;

后道外延芯片背面減薄客戶:提供減薄設(shè)備、耗材產(chǎn)品,以及匹配的粗拋墊和精拋墊。

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