MDD肖特基整流橋失效模式解析 溫升 漏電與擊穿的工程應(yīng)對
MDD肖特基整流橋因其低正向壓降、高速開關(guān)特性和良好的導(dǎo)通能力,廣泛應(yīng)用于電源適配器、LED驅(qū)動、DC-DC轉(zhuǎn)換器、車載電源等中低壓、高頻整流場合。然而,在實際應(yīng)用中,工程師常常會遇到肖特基整流橋失效的問題,如溫升過高、反向漏電流異常、器件擊穿等。本文將系統(tǒng)解析肖特基整流橋的三大典型失效模式及其背后的機理,并提出具體的設(shè)計與使用建議,助力提升電路的穩(wěn)定性與可靠性。 一、失效模式一:溫升過高導(dǎo)致熱失