編輯器

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編輯器(editor)是2012年公布的地理信息系統(tǒng)名詞。

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  • Vivado里如何把emacs設(shè)為默認編輯器
    習(xí)慣了用linux下emacs寫代碼,最近換到了windows下開發(fā)fpga,也想用emacs,怎么辦呢?原來在Vivado IDE里就可以設(shè)置,但也有一些注意事項。
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    03/06 13:30
  • Excel中使用VBA進行數(shù)據(jù)匹配并復(fù)制相應(yīng)行到另一個表
    今天媳婦給我說: 我要在第一張表里面要同時要找出這個十個貨號來。不要一個個篩選,有沒有一次性,就是我直接復(fù)制這十個貨號,我就直接把十個貨號里面的所有的資料 源數(shù)據(jù)表有16184行。 ctrl+f 一條一條復(fù)制,肯定不是我們程序員的風(fēng)格了, 下一次再讓我干這活呢(別人讓我干這活,我肯定不干的,呃,媳婦嘛,你懂的……)。 原想vlookup函數(shù),試了一下,再想想是不能用簡單函數(shù)解決了。要寫VBA代碼宏
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    02/06 13:31
  • 用4200A和矩陣開關(guān)搭建自動智能的可靠性評估平臺
    在現(xiàn)代ULSI電路中溝道熱載流子(CHC)誘導(dǎo)的退化是一個重要的與可靠性相關(guān)的問題。載流子在通過MOSFET通道的大電場加速時獲得動能。當(dāng)大多數(shù)載流子到達漏極時,熱載流子(動能非常高的載流子)由于原子能級碰撞的沖擊電離,可以在漏極附近產(chǎn)生電子—空穴對。其他的可以注入柵極通道界面,打破Si-H鍵,增加界面態(tài)密度。CHC的影響是器件參數(shù)的時間相關(guān)的退化,如VT、IDLIN和IDSAT。這種通道熱載流子
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  • 【測試案例分享】如何評估熱載流子引導(dǎo)的MOSFET衰退
    隨著MOSFET柵極長度的減小,熱載流子誘發(fā)的退化已成為重要的可靠性問題之一。在熱載流子效應(yīng)中,載流子被通道電場加速并被困在氧化物中。這些被捕獲的電荷會引起測量器件參數(shù)的時間相關(guān)位移,例如閾值電壓?(VTH)、跨導(dǎo) (GM)以及線性 (IDLIN) 和飽和 (IDSAT) 漏極電流。隨著時間的推移,可能會發(fā)生實質(zhì)性的器件參數(shù)退化,從而導(dǎo)致器件失效。用于測量HCI的儀器必須提供以下三個關(guān)鍵功能: 自
    【測試案例分享】如何評估熱載流子引導(dǎo)的MOSFET衰退
  • Vim編輯器之Vim常用操作命令
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