問題描述
客戶在使用 STM32G0B1 進行產(chǎn)品開發(fā)的時候,使用到了 ADC 模塊通道 0 進行電壓檢測,在產(chǎn)品生產(chǎn)過程中,測試發(fā)現(xiàn)某些樣機 ADC 采樣到的數(shù)據(jù)與實際不符合,誤差比較大,樣品除了 ADC 采樣數(shù)據(jù)誤差較大,其它功能都正常,客戶進行了交叉測試,發(fā)現(xiàn)問題是隨著 MCU 走,因此排除了板子的問題,同時我方對客戶的原理圖以及軟件部分代碼進行了復查,也沒有發(fā)現(xiàn)問題。
因此客戶懷疑這些樣片有缺陷,申請了 FA 檢測,最終的測試報告表示樣片正常,但是客戶需要一個解釋,為什么某些樣片會存在 ADC 采樣數(shù)據(jù)偏差較大。
問題分析
通過客戶反饋信息來看,排除了軟件代碼的問題,同時也排除了電路原理圖的問題,而 FA 測試也排除了芯片本身的問題,Division 在客戶返回的樣品上進行應用測試,得出的結論是,ADC 在參考電壓 3.3V 的情況下,ADC 轉(zhuǎn)換得到的數(shù)據(jù)是符合要求的。而客戶的板子,ADC 參考電壓為 1.8V,重新進行測試,最終發(fā)現(xiàn) ADC 轉(zhuǎn)換的數(shù)據(jù)偏差在 20mV 左右。
問題解決
STM32G0B1 ADC 的局限性,導致了這個問題,如果使用 STM32G0 系列 ADC,需要得到精確的采樣數(shù)據(jù),注意 ADC 的參考電壓不得小于 3.0V。
總結
在設計之前,強烈建議客戶除了閱讀參考手冊,數(shù)據(jù)手冊等資料外,閱讀芯片勘誤表也是極為重要的,這樣可以規(guī)避芯片本身已知的一些局限。