jtag接口

JTAG (Joint Test Action Group) 接口是一種用于測(cè)試和調(diào)試電路板上的數(shù)字電路的標(biāo)準(zhǔn)化接口。該接口由 IEEE 標(biāo)準(zhǔn) 1149.1 定義，也被稱為 JTAG 、Boundary-Scan 或 ASIC 互連測(cè)試。

1.JTAG接口原理圖

JTAG 接口主要由四種信號(hào)線組成：

• TMS（Test Mode Select）：測(cè)試模式選擇線
• TCK（Test Clock）：測(cè)試時(shí)鐘線
• TDI（Test Data Input）：測(cè)試數(shù)據(jù)輸入線
• TDO（Test Data Output）：測(cè)試數(shù)據(jù)輸出線

這四個(gè)線形成了一種環(huán)狀的拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)，可以在 IC 上形成一個(gè)完整的鏈，從而實(shí)現(xiàn)對(duì)芯片內(nèi)部各個(gè)模塊的控制與訪問(wèn)。

2.JTAG接口主要作用

JTAG 接口可以用于測(cè)試電路板上數(shù)字電路的連接性，包括 PCB 整體連接情況以及 IC 內(nèi)部邏輯關(guān)系的正確性。此外，JTAG 接口還可實(shí)現(xiàn)程序下載、調(diào)試和性能分析等功能。對(duì)于一些高端芯片，需要 JTAG 接口進(jìn)行故障排除與修復(fù)。

3.JTAG接口在調(diào)試中的應(yīng)用

JTAG 接口在調(diào)試中的應(yīng)用包括以下幾個(gè)方面：

• 單步執(zhí)行：通過(guò) JTAG 接口可以對(duì)芯片進(jìn)行單步操作，方便逐條程序指令地調(diào)試。
• 寄存器觀測(cè)：可以讀取芯片內(nèi)部各個(gè)寄存器的狀態(tài)，幫助調(diào)試人員了解芯片運(yùn)行的實(shí)時(shí)情況。
• 變量查看：可以查看程序中各個(gè)變量的值，幫助調(diào)試人員分析程序錯(cuò)誤。