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• 高精LiDAR+神經(jīng)渲染3DGS的完美融合實踐

  在自動駕駛仿真測試剛需下，數(shù)字孿生成提升保真度關(guān)鍵。本文介紹傳統(tǒng)與前沿結(jié)合的構(gòu)建流程，先通過數(shù)據(jù)采集、點云聚合等完成高精地圖重建，再以NeRF+3DGS實現(xiàn)神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)重建，降本增效，為仿真注入真實感，重塑測試范式。

  康謀科技

  586

  06/11 14:31

  激光雷達 數(shù)據(jù)采集

  
• EFT的頻譜測量與通用診斷分析方法

  電快速瞬變脈沖群（EFT）抗擾度是一種通用性強、測試方便、能高效暴露風險的EMS測試項目——通過模擬電網(wǎng)拉弧產(chǎn)生的一系列快速高壓尖峰脈沖來評估產(chǎn)品對瞬態(tài)高壓耐受能力同時暴露產(chǎn)品對瞬態(tài)射頻電場的耐受風險。本文對EFT脈沖的能量和頻譜進行了分析和實測，對EFT耦合產(chǎn)生的電場進行了評估，對工程中較為實用的近場探頭電場注入、直接注入進行了介紹，并推薦利用波形發(fā)生器模擬EFT脈沖直接注入的診斷分析方法和EFT防護器件的實測方法供大家在EMC開發(fā)中參考。

  電磁兼容EMC

  820

  06/06 11:39

  頻譜 EFT

  
• EMI 基礎(chǔ)知識和板級屏蔽設(shè)計

  在當今充斥著數(shù)字電子設(shè)備的世界中，電磁干擾 （EMI） 是軍事和商業(yè)市場的主要關(guān)注點。電氣設(shè)備由于它們的存在而容易受到這些不良輻射和故障的影響。

  電磁兼容EMC

  872

  06/06 11:37

  EMI

  
• 【車內(nèi)消費類接口測試】 泰克賦能V-by-One HS技術(shù)在汽車電子測試領(lǐng)域的應(yīng)

  隨著智能汽車技術(shù)的飛速發(fā)展，汽車電子系統(tǒng)對高清視頻和音頻傳輸?shù)男枨蟛粩嘣黾?。V-by-One HS作為一種高性能的串行化接口技術(shù)，憑借其高帶寬、低功耗和高可靠性等特點，被廣泛應(yīng)用于汽車電子系統(tǒng)中。本文將介紹V-by-One HS技術(shù)的核心特性、應(yīng)用場景以及泰克公司提供的測試解決方案。 V-by-One HS技術(shù)的核心特性 V-by-One HS是日本賽恩電子公司（THine）獨立開發(fā)的專用于視頻信

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  1252

  05/30 17:27

  汽車電子 泰克

  
• EMI基礎(chǔ)知識和板級屏蔽設(shè)計

  在當今充斥著數(shù)字電子設(shè)備的世界中，電磁干擾 （EMI） 是軍事和商業(yè)市場的主要關(guān)注點。電氣設(shè)備由于它們的存在而容易受到這些不良輻射和故障的影響。

  電磁兼容EMC

  1100

  05/26 08:55

  EMI 電磁干擾

  
• 細數(shù)高速脈沖測試的挑戰(zhàn)與應(yīng)對策略，釋放PDV檢測潛力

  作者：泰克科技 Andrea Vinci 高速脈沖測試是現(xiàn)代科學(xué)研究的前沿領(lǐng)域，廣泛應(yīng)用于高能物理探索中的光子多普勒測速（PDV）和寬帶激光測速（BLR）等領(lǐng)域。這些測試需要精確捕捉和分析微秒甚至納秒內(nèi)發(fā)生的事件，對精度要求極高。微小的測量誤差可能導(dǎo)致顯著差異，進而造成實驗延誤、研究費用增加以及數(shù)據(jù)完整性受損。 高速脈沖測試面臨諸多挑戰(zhàn)，包括數(shù)據(jù)采集速度、數(shù)據(jù)保真度、惡劣環(huán)境條件、空間限制、校準與

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  1071

  05/22 17:33

  數(shù)字化 泰克

  
• TGV轉(zhuǎn)換板需要做哪些可靠性測試？

  學(xué)員問：TGV轉(zhuǎn)換板在電鍍填充完金屬之后，需要怎樣驗證填充的質(zhì)量呢？

  TOM聊芯片智造

  706

  05/20 15:38

  電路可靠性設(shè)計

  
• 芯片可測性設(shè)計中的Procedural Description Language

  PDL（Procedural Description Language，過程描述語言）是IEEE 1687（IJTAG）標準的一部分，用于描述對嵌入式器件的操作過程。它是一種高級命令語言，能夠指導(dǎo)器件如何生成測試模式，而不是直接描述測試模式本身。PDL的主要功能是提供一種標準化的方式來描述對嵌入式器件的操作，使得這些操作可以在不同層次的硬件結(jié)構(gòu)中被復(fù)用。

  志芯

  1114

  05/19 08:53

  芯片設(shè)計 芯片測試

  

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