溝通是IC工程師工作中必不可少的一部分,溝通的過程中也不可避免地需要用到英語或者英語縮寫。
本文在之前的基礎(chǔ)上補(bǔ)充了一部分專業(yè)詞匯。如果在座的各位大佬還有補(bǔ)充或糾正的話,歡迎留言/評(píng)論。
預(yù)覽
Part 1. 按字母A-Z梳理
Part 2. 集成電路規(guī)模
Part 3. 常用EDA工具
Part 4. 存儲(chǔ)器類型
A
AD:模擬設(shè)計(jì)工程師
ASIC:Application Specific Integrated Circuit,專用集成電路
AHB/APB/ASB/AXI:ARM公司推出的總線規(guī)范
ADC:模擬信號(hào)到數(shù)字信號(hào)的轉(zhuǎn)換電路,同A/D
APR:Auto Place and Route,自動(dòng)布局布線
ATPG:Auto Test Pattern Generator,測(cè)試向量自動(dòng)生成工具,是DFT中的常見流程
ALU:arithmetic and logic unit,算術(shù)邏輯單元
B
BE:Back End,IC設(shè)計(jì)中的后端流程
BIST:Build in System Test,內(nèi)建自測(cè)試,在芯片內(nèi)部產(chǎn)生測(cè)試碼,對(duì)測(cè)試的結(jié)果進(jìn)行分析。
C
Chip:芯片
CAD:計(jì)算機(jī)輔助設(shè)計(jì)工具
CDC:跨時(shí)鐘域檢查
Coverage:覆蓋率
CTS:時(shí)序樹綜合
CDM:元件充電模型
CAN:Controller Area Network,是ISO國際標(biāo)準(zhǔn)化的串行通信協(xié)議
CMOS:制造大規(guī)模集成電路芯片用的一種技術(shù)或用這種技術(shù)制造出來的芯片
Chiplet:芯粒,是指預(yù)先制造好、具有特定功能、可組合集成的晶片
CVD:化學(xué)氣相沉積
CP:Circuit Probing、Chip Probing,晶圓測(cè)試
D
DE:數(shù)字設(shè)計(jì)工程師
DV:數(shù)字驗(yàn)證工程師
Delay:延遲,指元器件的延遲,也可用來指項(xiàng)目進(jìn)度的延遲
Design house:芯片設(shè)計(jì)公司
Design service:芯片設(shè)計(jì)服務(wù)公司
DFT:芯片可測(cè)性設(shè)計(jì)
DSP:數(shù)字信號(hào)處理
DAC:數(shù)字信號(hào)到模擬信號(hào)的轉(zhuǎn)換電路,同D/A
DVE:可視化仿真環(huán)境
DUV:深紫外光刻
DUT/DUV:待測(cè)試的設(shè)計(jì)模塊
DRC:設(shè)計(jì)規(guī)則檢查
E
EE:設(shè)備工程師
EDA:電子設(shè)計(jì)自動(dòng)化工具
EUV:極深紫外光刻
ERC:電氣規(guī)則檢查
F
FPGA:現(xiàn)場(chǎng)可編程邏輯門陣列,由PAL/GAL等早期可編程邏輯器件發(fā)展而來
FE:IC設(shè)計(jì)中的前端流程
FM:形式驗(yàn)證
Fabless:芯片設(shè)計(jì)公司,也叫DesignHouse
Foundry:芯片代工廠
Flip-Flop:觸發(fā)器
Full Mask:全掩膜,一種流片方式
FT:Final Test,芯片在封裝完成以后最終的功能和性能測(cè)試
G
GPU:圖形處理器
GDSII:版圖layout的文件格式
GPIO:通用輸入/輸出,總線擴(kuò)展器
GLS:gate-level simulation,數(shù)字驗(yàn)證中的門級(jí)仿真
GAA:Gate-All-Around FET,全環(huán)繞柵極晶體管
H
HDMI:高清晰度多媒體接口
HDL:Hardware Description Language,硬件描述語言
HVL:Hardware Verification Language,硬件驗(yàn)證語言
I
IC:集成電路
IP core:知識(shí)產(chǎn)權(quán)核,特指IC中硬件描述語言程序?yàn)榛A(chǔ)的電路
IP Vendor:IP供應(yīng)商
I/O:數(shù)據(jù)在內(nèi)部存儲(chǔ)器和外部存儲(chǔ)器或其他周邊設(shè)備之間的輸入和輸出
I2C:Philips公司開發(fā)的一種簡單、雙向二線制同步串行總線
IEEE:電氣與電子工程師協(xié)會(huì)
ISSCC:集成電路設(shè)計(jì)領(lǐng)域最高級(jí)別會(huì)議
J
JTAG:國際標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試協(xié)議(IEEE 1149.1),主要用于芯片內(nèi)部測(cè)試。
L
Layout:版圖
LPS:低功耗仿真
LVS:版圖與電路圖一致性檢查
LUT:Look-Up-Table,顯示查找表,本質(zhì)上是一個(gè)RAM
M
Memory:內(nèi)存
Module:模塊
MIPS:一種基于RISC指令架構(gòu)
MCDF:多通道數(shù)據(jù)整形器
MEMS:Micro-Electro-Mechanical System,微機(jī)電系統(tǒng)、傳感器
MPW:多項(xiàng)目晶圓,一種流片形式,把多個(gè)使用相同工藝的集成電路設(shè)計(jì)放在同一晶圓片上流片
MOS:MOSFET,金屬-氧化物半導(dǎo)體場(chǎng)效應(yīng)晶體管
N
Netlist:門級(jí)網(wǎng)表
NRE:集成電路生產(chǎn)成本中非經(jīng)常性發(fā)生的開支
NoC:Network on Chip,片上網(wǎng)絡(luò),在單個(gè)芯片上實(shí)現(xiàn)的基于網(wǎng)絡(luò)通信的電子系統(tǒng)
O
OPC:光刻工藝修正
P
Power:功率
Python:常用的腳本語言
Perl:數(shù)字IC設(shè)計(jì)中常用的腳本語言
PLL:Phase Locked Loop,鎖相環(huán),一般用于時(shí)鐘性倍頻電路
PV:Physical verification,物理驗(yàn)證,數(shù)字版圖實(shí)現(xiàn)后需要做的驗(yàn)證
PAE:process antenna effect,天線效應(yīng),芯片制造過程中產(chǎn)生的效應(yīng)
PMIC:Power Management IC,電源管理集成電路
PD:Physical design,物理設(shè)計(jì),一般指數(shù)字后端的版圖設(shè)計(jì)
R
RTL:Real Time Logistics,寄存器轉(zhuǎn)換級(jí)電路
RISC:精簡指令集
RF:發(fā)射頻率,簡稱射頻
Regression:回歸測(cè)試
S
SoC:系統(tǒng)級(jí)芯片
Spec:芯片規(guī)格說明書
SI:信號(hào)完整性
STA:靜態(tài)時(shí)序分析
SV:System Verilog,芯片驗(yàn)證語言
Simulation:仿真
SCAN:掃描測(cè)試,檢測(cè)芯片制造過程中經(jīng)常會(huì)出現(xiàn)的失效問題。
Shell:數(shù)字IC設(shè)計(jì)常用腳本語言
Signoff:驗(yàn)收機(jī)制,驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)
T
Tapout:流片
Test-bench:數(shù)字驗(yàn)證搭建用來測(cè)試的平臺(tái)
TCL:數(shù)字IC設(shè)計(jì)端會(huì)用到的一種腳本語言
Test case:測(cè)試用例
U
USB:通用串行總線
UART:通用異步收發(fā)傳輸器
UVM:主流的數(shù)字驗(yàn)證方法學(xué)
V
Verilog:常用的硬件描述語言
VHDL:硬件描述語言,與Verilog相似,但不常用
Verification:芯片功能驗(yàn)證
W
Wafer:晶圓
WAT:Wafer Acception Test,晶圓可接受度測(cè)試
Y
Yield:良率
集成電路規(guī)模
SSI:Small Scale Integration,小型集成電路,邏輯門10個(gè)以下或 晶體管100個(gè)以下。
MSI:Medium Scale Integration,中型集成電路,邏輯門11~100個(gè)或晶體管101~1k個(gè)。
LSI:Large Scale Integration,大規(guī)模集成電路,邏輯門101~1k個(gè)或晶體管1,001~10k個(gè)。
VLSI:Very large scale integration,超大規(guī)模集成電路,邏輯門1,001~10k個(gè)或晶體管10,001~100k個(gè)。
ULSI:Ultra Large Scale Integration,極大規(guī)模集成電路,邏輯門10,001~1M個(gè)或晶體管100,001~10M個(gè)。
常用EDA工具
DC:Synopsys公司的數(shù)字綜合工具
VCS:Synopsys公司的數(shù)字前端仿真工具
Verdi:Synopsys公司的數(shù)字前端debug工具
PT:Synopsys公司的靜態(tài)時(shí)序分析工具
ICC:Synopsys公司的自動(dòng)布局布線軟件
Innovus:Cadence公司的數(shù)字版圖實(shí)現(xiàn)工具
NCSIM:Cadence公司的數(shù)字前端仿真工具
Modelsim:Mentor公司的數(shù)字前端仿真工具,也叫QUESTASIM
Tessent:Mentor公司的DFT工具
存儲(chǔ)器
RAM:隨機(jī)存取存儲(chǔ)器
SRAM:靜態(tài)隨機(jī)存取存儲(chǔ)器
DRAM:動(dòng)態(tài)隨機(jī)存取存儲(chǔ)器
Flash:閃存